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Korean Society of Electron Microscopic Technology

 

 

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        1. ÀÓ ¿ø Áø  

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                       À±Àαâ(¼øÃµÇâ´ëÇб³ Àǰú´ëÇÐ)

         ÃÑ     ¹« : ±èÈ«¸²(°¡Å縯´ëÇб³ Àǰú´ëÇÐ) 

         °¨     »ç : ÀÌÁ¤Çö(¼øÃµÇâ´ëÇб³ Àǰú´ëÇÐ)

         °í     ¹® : ±ÇÁß±Õ(ÇѾç´ëÇб³ Àǰú´ëÇÐ)

                       ±è¼ö¼º(¼­¿ï´ëÇб³ Àǰú´ëÇÐ)

                       ±è¼öÁø(ÇѸ²´ëÇб³ »ý¹°Çаú)

                       ±è¿µÈ£(°è¸í´ëÇб³ Àǰú´ëÇÐ)

                       ±èÁß±æ(°æºÏ´ëÇб³ Àǰú´ëÇÐ)

                       ³²È¿°ü(¿µ³²´ëÇб³)

                       ¹ÚâÇö(°í·Á´ëÇб³ Àǰú´ëÇÐ) 

                       ¾öâ¼·(°í·Á´ëÇб³Àǰú´ëÇÐ)

                       ÀÎÀç¿ë(°æÈñÀÇ·á¿ø)

                       ÇѼº½Ä(°í·Á´ëÇб³ »ý¸í°øÇпø)

       ¸í¿¹È¸¿ø : ä¹®ÀÏ, ¹Ú¿ëÅÂ, ÀÌÀνÄ, Ȳ°æÈñ

       Æ¯º°È¸¿ø : ±èÁØÈ£(À̰ø±³¿ª), ÀÌÇÊÁÖ(À̰ø±³¿ª)

                       ±è¿µ°ï(¿ì¸í±³¿ª), À±Æò³ë(ÁÖ¿øÅ×Å©)

                       Á¤Å¹®(C&S)

           2. Àüü ȸ¿ø ¸í´Ü

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